Electron optics and the lectron microscope (Record no. 181072)
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| 000 -LEADER | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 00403nam a2200145 a 4500 |
| 003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | AR-LpUFCA |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20231113183058.0 |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 081022s1945 xxu g |00 0|eng d |
| 040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | AR-LpUFCA |
| Lengua de catalogación | spa |
| Centro/agencia transcriptor | AR-LpUFCA |
| 245 00 - MENCIÓN DEL TÍTULO | |
| Título | Electron optics and the lectron microscope |
| 260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. | |
| Lugar de publicación, distribución, etc. | New York: |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. | John Wiley & Sons |
| Fecha de publicación, distribución, etc. | 1945 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | xi, 766p. ; 21 cm. |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | Electrónica |
| 9 (RLIN) | 21052 |
| 942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Libros |
| Estado retirado | Estado de pérdida | Fuente del sistema de clasificación o colocación | Estado de daño | No para préstamo | Biblioteca de origen | Biblioteca actual | Fecha de adquisición | Número de inventario | Total de préstamos | Signatura topográfica completa | Código de barras | Visto por última vez | Precio de reemplazo | Tipo de ítem Koha |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Clasificación decimal universal | Disponible para préstamo | Biblioteca Fac.Ciencias Astronómicas y Geofísicas | Biblioteca Fac.Ciencias Astronómicas y Geofísicas | 15/05/2023 | 49/02675 | 621.3. Z8 Ej.1 | 49/02675 | 15/05/2023 | 15/05/2023 | Libros |